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News | 16-09-2019

Defekte im Fokus

Vier Tage lang beschäftigen sich Wissenschaftler mit Analyseverfahren zur Erkennung von Kristalldefekten auf der 18. internationalen DRIP-Konferenz in Berlin

Teilnehmer der 18. DRIP-Konferenz in Berlin ©FBH/Mogilatenko

Vom 9. bis 12. September drehte sich im Novotel am Tiergarten alles um Kristalldefekte in Halbleitern. Dort fand die XVIII. DRIP-Konferenz mit 119 Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftlern aus 17 Ländern statt. Die Tagung wurde gemeinsam vom Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik (FBH) und dem Leibniz-Institut für Kristallzüchtung (IKZ) organisiert.

„Wir konnten nicht nur herausragende Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler aus der ganzen Welt gewinnen, sondern auch unsere eigene Forschung und den wissenschaftlichen Nachwuchs gut präsentieren“, erklärt Dr. Anna Mogilatenko aus dem FBH, die die Konferenz mitorganisiert hatte. Die beiden Nachwuchspreise, der Best Student Poster Award (Jonas Weinrich) und der Best Student Oral Presentation Award (Norman Susilo), wurden vom internationalen Lenkungsgremium verliehen. Die Arbeiten der beiden Doktoranden sind am oder in Zusammenarbeit mit dem Ferdinand-Braun-Institut entstanden.

Die Teilnehmenden der DRIP-Konferenz begrüßten insbesondere den multi-disziplinären Ansatz der Tagung und die vielfältigen Möglichkeiten zum Netzwerken.

 

Über die DRIP-Konferenz
Die internationale Tagung beschäftigt sich mit Techniken und Werkzeugen, mit denen Kristalldefekte in Halbleitern umfassend analysiert werden. Deren Einfluss auf die grundlegenden Materialeigenschaften und die zugehörigen Bauelemente kann dadurch bewertet werden. Derartige Untersuchungen sind die Grundlage für immer leistungsfähigere Bauelemente. Dazu zählen etwa halbleiterbasierte Laserdioden, LEDs, Transistoren und Solarzellen, die Innovationen in vielfältigen Bereichen vorantreiben: von 5G bis hin zu erneuerbaren Energien.

 

Erschienen: Adlershof Journal