W. Drozdowski, Michał Makowski, Marcin E. Witkowski, Andrzej J. Wojtowicz, Zbigniew Galazka, Klaus Irmscher, Robert SchewskiRadiation Measurements 121 (2019) 49–53
W.-C. Lee, Matthew J. Wahila, Shantanu Mukherjee, Christopher N. Singh, Tyler Eustance, Anna Regoutz, H. Paik, Jos E. Boschker, Fanny Rodolakis, Tien-Lin Lee, D. G. Schlom, and Louis F. J. PiperJournal of Applied Physics 125, 082539 (2019)
M. Agostini, A. M. Bakalyarov, E. Andreotti, M. Balata, I. Barabanov, L. Baudis, N. Barros, C. Bauer, E. Bellotti, S. Belogurov, G. Benato, A. Bettini, L. Bezrukov, T. Bode, D. Borowicz, V. Brudanin, R. Brugnera, D. Budjáš, A. Caldwell, C. Cattadori, A. Chernogorov, V. D’Andrea, E. V. Demidova, N. Di Marco, A. Domula, E. Doroshkevich, V. Egorov, R. Falkenstein, K. Freund, A. Gangapshev, A. Garfagnini, C. Gooch, P. Grabmayr, V. Gurentsov, K. Gusev, J. Hakenmüller, A. Hegai, M. Heisel, S. Hemmer, R. Hiller, W. Hofmann, M. Hult, L. V. Inzhechik, J. Janicskó Csáthy, J. Jochum, M. Junker, V. Kazalov, Y. Kermaïdic, T. Kihm, I. V. Kirpichnikov, A. Kirsch, A. Kish, A. Klimenko, R. Kneißl, K. T. Knöpfle, O. Kochetov, V. N. Kornoukhov, V. V. Kuzminov, M. Laubenstein, A. Lazzaro, B. Lehnert, Y. Liao, M. Lindner, I. Lippi, A. Lubashevskiy, B. Lubsandorzhiev, G. Lutter, C. Macolino, B. Majorovits, W. Maneschg, G. Marissens, M. Miloradovic, R. Mingazheva, M. Misiaszek, P. Moseev, I. Nemchenok, K. Panas, L. Pandola, K. Pelczar, A. Pullia, C. Ransom, S. Riboldi, N. Rumyantseva, C. Sada, F. Salamida, M. Salathe, C. Schmitt, B. Schneider, S. Schönert, A.-K. Schütz, O. Schulz, B. Schwingenheuer, O. Selivanenko, E. Shevchik, M. Shirchenko, H. Simgen, A. Smolnikov, L. Stanco, L. Vanhoefer, A. A. Vasenko, A. Veresnikova, K. von Sturm, V. Wagner, A. Wegmann, T. Wester, C. Wiesinger, M. Wojcik, E. Yanovich, I. Zhitnikov, S. V. Zhukov, D. Zinatulina, A. J. Zsigmond, K. Zuber, G. Zuzel European Physical Journal C (2019), Bd. 79, Article 978
S. Bin Anooz, A. Popp, R. Grüneberg, A. Fiedler, K. Irmscher, R.Schewski, M. Albrecht, Z.Galazka, G. Wagner2019 Compound Semiconductor Week (CSW)
J.Hidde, Christo Guguscheva, Detlef Klimma,Journal of Crystal Growth 509 (2019) 60–65
T. Hirsch, Detlef Klimm, Christo Guguschev, Albert Kwasniewski, Steffen GanschowJournal of Crystal Growth 505 (2019) 38–43
A. Mogilatenko, A. Knauer, U. Zeimer, C. Netzel, J. Jeschke, C. Hartmann, J. Wollweber, A. Dittmar, U. Juda, M. Weyers, M. BickermannJ. Crystal Growth, 505 (2018) 69-73
M. Mulazzi, F. Reichmann, A. Becker, W. M. Klesse, P. Alippi, V. Fiorentini, A. Parisini, M. Bosi, R. FornariAPL Materials 7, 022522 (2019);
G. Niu, P. Calka, P. Huang, S. Sharath, S. Petzold, A.Gloskovskii, K. Fröhlich, Y. Zhao, J. Kang, M. Schubert, F. Bärwolf, W. Ren, Z. -G. Ye, E. Perez, C. Wenger, L. Alff and T. SchroederMaterials Research Letters Volume 7, 2019 - Issue 3, Pages 117-123
S. G. Pavlov, N. V. Abrosimov, V. B. Shuman, L. M. Portsel, A. N. Lodygin, Y. A. Astrov, R. Kh. Zhukavin, V. N. Shastin, K. Irmscher, A. Pohl, H.-W. HübersPhys. Status Solidi B 2019, 256, 1800514
R. Kh. Zhukavin, S. G. Pavlov, A. Pohl, N. V. Abrosimov, H. Riemann, B. Redlich,
H.-W. Hübers, V. N. ShastinSemiconductors volume 53, pages1255–1257(2019)
W. Drozdowski, M. Makowski, M. E. Witkowski, A. J. Wojtowicz, Z. Galazka, K. Irmscher, R. SchewskiRadiation Measurements 121 (2019) 49–53
V. V. Emtsev, N. V. Abrosimov, V. V. Kozlovski, D. S. Poloskin, G. A. OganesyanaSemiconductors , 52 (2018) 1677-1685
M. Feneberg, C. Lidig, M. E. White, M. Y. Tsai, J. S. Speck, O. Bierwagen, Z. Galazka, R. GoldhahnAPL Materials 7, 022508 (2019);
Z. Galazka, S. Ganschow, R. Schewski, K. Irmscher, D. Klimm, A. Kwasniewski, M. Pietsch, A. Fiedler, I. Schulze-Jonack, M. Albrecht, T. Schröder, M. BickermannAPL Materials 7, 022512 (2019)
K. Irmscher, I. Gamov , E. Nowak , G. Gärtner, F. Zimmermann, F. C. Beyer, E. Richter, M. Weyers, G. TränkleAppl. Phys. Lett. 113, 262101 (2018);
P. Mazzolini, Vogt, P.; Schewski, R.; Wouters, C.; Albrecht, M.; Bierwagen, O.APL Materials 7, 022511 (2019)
J. Pejchal, J. Barta, V. Babin, A. Beitlerova, P. Prusa, R. Kucerkova, D. Panek, T. Parkman, C. Guguschev, L. Havlak, P. Zemenova, K. Kamada, A. YoshikawaOptical Materials 86 (2018) 213–232
F. Ringleb, S. Andree, B. Heidmann, J. Bonse, K. Eylers, O. Ernst, T. Boeck, M. Schmid, J. KrügerBeilstein Journal of Nanotechnology 9 (2018) 3025-3038
R. Schewski, K. Lion, A. Fiedler, C. Wouters, A. Popp, S. V. Levchenko, T. Schulz, M. Schmidbauer, S. Bin Anooz, R. Grüneberg, Z. Galazka, G. Wagner, K. Irmscher, M. Scheffler, C. Draxl, M. AlbrechtAPL Mater. 7, 022515 (2019)